电镀涂层越薄，制造商就越难以就其物理性能得出明确的结论。一个典型的例子是对印刷电路板的插头连接器、电触点和边缘连接器上的薄金钴层的评估。在这种情况下，现在的层厚度只有600到800纳米。通常测定维氏硬度的方法是将金刚石金字塔压头压入表面，用光学方法测量剩余的硬度压痕。如果压痕深度最大等于被测涂层深度的十分之一，则可获得确定的结果。将这一标准应用于薄金涂层只产生60纳米的压痕深度。在这个厚度上，长期建立的ASTM B488-01维克斯测试已经达到了极限。
因此，领先的原电贵金属电解质供应商Umicore Galvanotechnik使用ZwickRoell的“通用纳米机械测试仪”(UNAT)进行硬度测定。这可以根据EN ISO 14577(“硬度和材料参数的仪器压痕测试”)在纳米范围内精确测定压痕深度;软件将测量值转换为维氏硬度，便于比较。UNAT是专门为表征微观和纳米范围内的机械表面性能而设计的，最大力可达2N。该解决方案的特别之处在于使用了两个完全独立的测量头来测量法向和横向力-位移曲线，分辨率在纳米范围内。这使得该仪器可用作拉伸测试仪器和轮廓仪，以及硬度、磨损和划痕测试。
